多参数植物根分析系统 植物根扫描仪 根测定仪
LC-4800植物根系检测系统是一套用于植物根系全面分析的多参数根系图像扫描分析系统，可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等，功能强大，操作简单，广泛运用于根系形态和构造研究。
Vertax Laser VL400激光超声波树木植物测高测距仪
北京哈维斯廷科技有限公司 Vertax Laser VL400激光超声波树木测高测距仪，可以精确的测量距离、水平距离、角度和高度，非常适应森林和田野里测量的特殊要求。
sunscan植物冠层分析系统
通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）；SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。
os-5p便携式脉冲调制叶绿素荧光仪
OS-5p是一种轻便的便携式调制叶绿素荧光仪，这种系统使用脉冲调制技术来测量样品在自然光照条件下进行正常的光合作用时所激发的叶绿素荧光，可以在自然光下对样品组织进行无损测量，在光照条件下测量感应期间的Y、Fo、Fm、Fv、Fv/Fm、Fod、Fms、Fs、qP、qN、NPQ、Ft、ETR
WinDIAS 3叶面图像分析系统(高速版)
WinDIAS 3高速型叶面图像分析系统是一款高级的图像分析系统，可对叶面进行面积、周长、长度、宽度、目标计等分析功能，可自动测量病变、健康和虫害部分的叶面积，分析图像可以通过摄像机或扫描仪获取，并可选传送带附件进行大量叶片处理。