晶圆缺陷检测系统LODAS
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术， 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术，可同时探测收集激光的反射光，透射光以及共聚焦，可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面，背面和内部的缺陷，可探测最小缺陷为10
磁化率仪/磁化率天平
用于测量物质的磁化率（固体、液体和气体皆可）。只需少量样品（50mg-250mg），即可快速测量出顺磁和抗磁物质的磁化率。机器轻便（主机2.2kg），方便携带。
焙烤品质分析仪
TA/36-柱形探头 适用于测试海绵蛋糕、吐司面包等烧烤食品的硬度(hardness)、弹性(springiness)和延展性（extension）测试。
美国Rtec微纳米压痕/划痕仪
该平台配有防振台，隔声隔热外罩，以确保环境的稳定•3板式电容传感器实现超高精度的位移测量•用户自定义的分析算法或模型来计算材料的性能•ASTM，DIN和ISO标准
塑料密度测试仪DH-600
塑料密度仪-塑料密度测试仪DH-600采用一体注塑成型大容量测量配件；一体注塑成型透明水槽，耐摔耐破防腐蚀，测量时可清楚观察样品在介质中的情况；水中吊线采用0.5mm不锈钢材料，不弯不变形，与吊栏垂直不碰触水槽。
SER148/3脂肪测定仪
意大利VELP脂肪测定仪，采用RANDALL技术，极大的提高了效率比传统的索氏方法实验时间缩短20-80%。可快速测定/萃取饲料、食品、清洁剂、聚合物、药品、石化产品、纤维制品、土壤、污泥等物质中的脂肪等可溶性有机化合物。可选型号：SER148/3,SER148/6
表盘式粘度计
性能与特点：·为中国市场用户专门研发的便宜的数字显示黏度计 ·美国原装进口，兼具品牌的所有优秀品质及性能 ·具有精确的测量性，可靠的性能和服务质量 ·全中文操作面板标识,操作简便,打开开关, 转动旋钮即可进行测量